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日本理學(xué)ZSX Primus 波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀
理學(xué)ZSX系列中最新的儀器,ZSX Primus沿襲了及時(shí)提供精確結(jié)果的傳統(tǒng),無(wú)與倫比的可靠性,靈活性和簡(jiǎn)便性適合當(dāng)今實(shí)驗(yàn)室的各種挑戰(zhàn) -
日本理學(xué)ZSX Primus III+ 波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀
X射線(xiàn)管位于分析樣品上方,最大程度減少了真空室內(nèi)飄散粉末損壞光管的風(fēng)險(xiǎn),并且無(wú)需在進(jìn)行粉末樣品并且無(wú)需在進(jìn)行粉末樣品分析時(shí)使用粘合劑,使樣品制備更快捷簡(jiǎn)便。 -
日本理學(xué)ZSX Primus IV 波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀
理學(xué)掃描型波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀ZSX Primus IV采用獨(dú)特的上照射設(shè)計(jì),完美契合粉末樣品測(cè)試需求,可以快速定量分析從Be(鈹)到U(鈾)的各種類(lèi)型樣品的成分分析。 -
日本理學(xué)Supermini 200波長(zhǎng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀
Supermini200擁有改良的軟件功能和更為小巧的機(jī)身。作為臺(tái)式順序WDXRF,可以分析幾乎任何材料中從氧(O)到鈾(U)的元素。理學(xué)的Supermini200提供了低成本,高分辨率和低檢出限。 -
日本理學(xué)Simultix 15波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀
理學(xué)Simultix 15波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀,作為一款功能強(qiáng)大的元素分析分析工具,廣泛用于高吞吐量和精度的行業(yè)(例如鋼鐵和水泥)的過(guò)程控制和品質(zhì)管控。 -
日本理學(xué)全反射 X 射線(xiàn)熒光光譜儀TXRF 3760-華普通用
全反射 X 射線(xiàn)熒光光譜儀表面污染計(jì)量測(cè)量離散點(diǎn)的元素污染或使用完整的晶圓圖 -
日本理學(xué)連續(xù)波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀ZSX Primus 400-華普通用
Rigaku 獨(dú)特的 ZSX Primus 400 連續(xù)波長(zhǎng)色散 X 射線(xiàn)熒光 (WDXRF) 光譜儀專(zhuān)為處理非常大或重的樣品而設(shè)計(jì)。 -
日本理學(xué)全反射 X 射線(xiàn)熒光光譜儀TXRF-V310-華普通用
日本理學(xué)全反射 X 射線(xiàn)熒光光譜儀TXRF-V310通過(guò) VPD-TXRF 進(jìn)行晶圓表面污染測(cè)量超痕量元素表面污染的測(cè)量 -
日本理學(xué)MiniFlex 600 臺(tái)式X射線(xiàn)衍射儀-華普通用
理學(xué)臺(tái)式X射線(xiàn)衍射儀系統(tǒng)將重新定義你所認(rèn)為的X射線(xiàn)衍射儀方式。 -
理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀 ZSX Primus IVi
理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀ZSX Primus IVi,采用下照式光路結(jié)構(gòu),能夠?qū)σ后w、合金和電鍍金屬等樣品進(jìn)行無(wú)損分析。ZSX Primus IVi為分析最復(fù)雜的樣品提供了卓越的性能和靈活性。 -
理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀 ZSX Primus IIInext
理學(xué)新一代波長(zhǎng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀ZSX Primus IIInext,采用理學(xué)獨(dú)特的光路結(jié)構(gòu),使其成為質(zhì)量和生產(chǎn)控制等應(yīng)用中通用XRF的理想選擇。 -
日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀WDA 3650-華普通用
波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀WDA-3650用于薄膜評(píng)估的X射線(xiàn)熒光分析儀同時(shí)對(duì)各種薄膜的薄膜厚度和成分進(jìn)行無(wú)損、非接觸式分析